・サンケン電気 TSMCの22nm超低リークプロセスおよびRRAM技術を使用したパワエレ制御向けの先端的なマイクロコントローラユニットの開発について 20250220newsjp.pdf
・半導体テスターのテスト時間短縮に貢献するターンオン時間の高速化を実現した小型フォトリレー発売について | 東芝デバイス&ストレージ株式会社 | 日本
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